廣泛適用于國防、、航天、通訊、電子、汽車、家電、等行業(yè)。該類型設備用于發(fā)現(xiàn)早期故障，模擬實際工況考核和結構強度試驗，產品應用范圍廣泛、適用面寬、試驗*、可靠。正弦波、調頻、掃頻、可程式、倍頻、對數(shù)、大加速度,調幅,時間控制,全功能電腦控制,簡易定加速度/定振幅。設備通過連續(xù)*運轉3個月測試，性能穩(wěn)定，質量可靠。
三綜合試驗箱
汽車零部件 三綜合試驗箱,高低溫濕熱試驗箱,淋雨試驗箱,光伏組件測試箱
【三綜合試驗箱儀器簡介】
東莞艾思荔是三綜合試驗箱/溫濕度振動三綜合試驗箱環(huán)測設備的，技術水準已*進口產品，秉持[品質至上，服務至上；邀您參與，共享共存]的經營理念；同時設有在各個領域多個區(qū)域的服務機構；是三綜合試驗箱/溫濕度振動三綜合試驗箱環(huán)測設備的專業(yè)制造企業(yè)。
【三綜合試驗箱用途】
綜合環(huán)境試驗系統(tǒng)主要氣候箱和振動試驗臺的綜合，對試件施加溫度、濕度、振動應力進行綜合環(huán)境試驗與可靠性試驗。與單一因素作用相比，更真實地反映電工電子產品在運輸和實際使用過程中對環(huán)境變化的適應度，產品的缺陷，是新產品研制，樣機試驗到產品合格鑒定試驗全過程的重要試驗手段。系統(tǒng)能夠產生溫度、濕度、振動的綜合環(huán)境，也可以產生單獨的溫度、濕度振動等環(huán)境。
【三綜合試驗箱臺體技術參數(shù)】
☆ 激振力: 正弦3000N; 隨機2400N
☆ 頻率范圍: 5Hz ~ 4000Hz可做定頻、往返掃頻、正弦波、隨機波.
☆ 掃頻時間: 定頻/單次掃頻為1-3600min,并可顯示各種掃頻曲線.
☆ 振動方向: 垂直 +水平
☆ 振動波形:正弦波、隨機波、可在屏幕上觀察控制譜形、波形及信號動態(tài)范圍
☆消耗功率 : 15KVA
☆DA-3功率放大器:15KVA , 尺寸:W60×H170×L8CM
☆大加速度: 1000m/s2（ 100個G，空載）
☆ 大速度: 1.6m/s
☆掃頻方式: 線性、對數(shù)、正反掃、定頻.
☆ 掃頻次數(shù): 1-32767次.
☆ 大位移:25mmp-p（空載.）雙峰值。
☆ 振動部件有效質量: 動圈重量3.0kg
☆ 大空載:120kg
☆振動機臺體尺寸:W75×H82×L89CM
【三綜合試驗箱優(yōu)點】
☆ 雙用途設備，投資回報率高
☆ 具有靈活性，可以和現(xiàn)有的振動試驗臺一起使用
☆ 可以模擬多三種測試環(huán)境
☆ 溫變速率更快
【三綜合試驗箱特點】
☆ CSZ EZT-570i觸摸控制器
☆ 以太網監(jiān)測&控制
☆ 振動臺隔板接口
☆ RS-232，RS-485串行通信接口
☆ 無霧觀察窗&內部照明燈
【三綜合試驗箱相關信息】
☆ 帶有隔板接口，可以和振動臺連接
☆ 見完整的選件列表
☆ 選擇試驗箱時的注意事項
☆ 定制振動測試服務
☆ 無霧觀察窗和內部照明燈便于清晰觀察產品
☆ 試驗箱端口和樣品架采用全焊接方式，消除了潛在的泄漏問題，延長了設備使用壽命
☆ CSZ EZT-570i觸摸控制器帶有7”或10”觸摸屏，采用環(huán)境試驗箱操作編程的新技術，操作簡便。帶有數(shù)據(jù)記錄，以太網控制&監(jiān)測，數(shù)據(jù)備份功能，可以通過USB存儲器或計算機訪問數(shù)據(jù)文件，通過電子郵件或短信息發(fā)送報警通知，*的系統(tǒng)安全保護功能，提供在線和多語言語音幫助
☆ 具有產品高低溫超溫保護和報警功能，可以保護被測樣品
☆ 試驗箱內層采用304磨光不銹鋼材料，易于清潔。接縫采用*焊接方式，密封性好，防止潮氣進入試驗箱
☆ RS-232/485串行通信接口，以太網控制&監(jiān)測（通信選件可選）
☆ 使用EZ-View 軟件選件可以同時監(jiān)測&控制20多臺試驗箱，無地點限制
☆ 試驗箱外壁采用壓型鋼板，結構強度更大，采用耐久粉末/聚氨酯噴涂工藝（也可以噴涂用戶的涂層）
【三綜合試驗箱制冷系統(tǒng)】
☆ 高容量氣流裝置配有強勁的空氣循環(huán)器，能夠提供良好的氣流，從而提高了設備內部的可控性；良好的氣流能大限度的減小溫度梯度，加速設備的溫度變化速率。
☆ 電子濕度傳感器，精確度高，低維護要求，適用于所有型號
☆ 壓力表可連續(xù)監(jiān)測試驗箱運行壓力，帶有預報警指示器
☆ CSZ生產的試驗箱全部采用環(huán)保安全，不易燃，非爆炸性，具有零臭氧消耗潛能值的制冷劑（ODP）
☆ 加濕用水過濾系統(tǒng)可以過濾雜質，保護試驗箱內部
【三綜合試驗箱設備滿足以下標準】
☆ GB/T5170.2-1996電工電子產品環(huán)境試驗設備參數(shù)檢定方法（溫度試驗設備）
☆ GB2423.2-89電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程（試驗B高溫試驗方法）
☆ GJB150.3-86軍用設備環(huán)境試驗方法（高溫試驗）
☆ GB/T2423.3-93電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程（濕熱試驗方法）
☆ GB2423.1-89電工電子產品基本環(huán)境試驗規(guī)程（試驗A低溫試驗方法）
☆ GJB150.4-86軍用設備環(huán)境試驗方法（低溫試驗）
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